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spectro midex是德国斯派克分析仪器公司推出的第三代微区分析x射线荧光能谱仪。不仅可对样品的微小区域所存在的元素进行快速无损地检定，还可对大样品地表面（面积可达ec标准线路板规格的2倍，233×160mm）进行元素分布分析。

spectro midex型x射线荧光能谱仪是为满足多种分析任务专门研制开发的微区分析仪器，灵敏度高，无破坏性，适用于多种行业及科研领域。

样品室

spectro midex装备了大容量的样品室。

样品室内安装了ccd摄像机，可准确、快速地确定测量位置。

spectro midex ld（长距离）型仪器，工作距离达20mm，可分析样品表面的“凹陷”部分，对电子线路板、形状不规则的珠宝首饰及检测戒指内表面的分析尤为适合。

软件包

只需先聚焦选择测量点，然后输入样品名称，即可开始分析。

可将待测样品的尺寸与准直器及分析方法相匹配。

对凹凸不平的样品可分别标识连续分析。

用户自定义元素分布显示，可选取不同的区域进行放大，并以任意格式保存。

画中画功能，可任意查看谱图及来源。

配备了fp 基本参数法软件，用于分析多种金属合金。

激发源

spectro midex采用风冷式细焦点x射线管做为激发源，非常适用于微小区域样品的激发。

检测器

spectro midex采用高分辨硅漂移检测器，半导体制冷，计数率高达1,000,000cps。

应用

电子行业电子元器件rohs指令的快速检测

金属、汽车、航空领域部件的成分检测

珠宝首饰及贵金属合金的分析

司法检定分析

样品表面的元素分布分析